
Анализ ключевых характеристик методов локальной диагностики полупроводников — метода наведенного рентгеновским пучком тока и рентгеновского флуоресцентного метода: автореферат диссертации на соискание ученой степени кандидата физико-математических наук: специальности 01.04.07 Физика конденсированного состояния , 05.27.01 Твердотельная электроника, радиоэлектронные компоненты, микро- и наноэлектроника, приборы на квантовых эффектах / Шабельникова Яна Леонидовна
Сохранено в:
Вид документа: | |
---|---|
Автор: | Шабельникова, Я. Л. |
Опубликовано: | Москва , 2013 |
Физические характеристики: |
26 с.
|
Язык: | Русский |
Предмет: |
ОФХ отдела книгохранения
Всего : 1 , доступно: 1 | Доступно Заказать | ||||||||||
---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
|