Методы повышения надежности микросхем на основе тестовых структур / А. И. Белоус [и др.]
Enregistré dans:
| Format: | |
|---|---|
| Publié: | Гомель : ГГУ , 2011 |
| Description matérielle: |
239 с. : ил., табл. ; 21 см
|
| Langue: | Русский |
| Sujets: |
ОФХ отдела книгохранения
| Всего : 2 , доступно: 2 | Disponible Réserver | |||||||||||||||
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
|
||||||||||||||||