Исследование структурно-химических параметров тонких пленок, наностеклокерамики и многослойных нанографитов методами спектроскопии комбинационного рассеяния света: автореферат диссертации на соискание ученой степени кандидата физико-математических наук: 01.04.05 / Ермаков Виктор Анатольевич
Захавана ў:
| Тып дакумента: | |
|---|---|
| Аўтар: | Ермаков, В. А. |
| Апублікавана: | Санкт-Петербург , 2011 |
| Фізіч. характарыстыкі: |
19 с. : ил.
|
| Мова: | Руская |
| Прадмет: |
ОФХ отдела книгохранения
| Усяго : 1 , даступна: 1 | Даступна Замовіць | ||||||||||
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
|
|||||||||||