Математическое моделирование в диагностике полупроводниковых гетероструктур: (Количеств. растровая микроскопия) / С. Г. Конников, В. М. Чистяков, И. Н. Яссиевич

Сохранено в:
Автор: Конников, С. Г.
Вид документа: Книги
Опубликовано: Л. : ФТИ , 1990
Язык: Русский