Обзоры по электронной технике / Министерство электронной промышленности СССР
Сохранено в:
Показ/скрытие дополнительной информации.
Другие авторы/ответственные: | "Электроника", институт (Москва) |
---|---|
Вид документа: | |
Опубликовано: | Москва : ЦНИИ "Электроника" , 1978―1982 |
Язык: | Русский |
Предмет: |
1979, Вып.1: Прогнозирование надежности изделий электронной техники...
Всего : 1 , доступно: 1 | Доступно Заказать | ||||||||||
---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
|
1979, Вып.2: Анализ брака и отказов интегральных схем
Всего : 1 , доступно: 1 | Доступно Заказать | ||||||||||
---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
|
1979, Вып.3: Надежность технологических процессов
Всего : 1 , доступно: 1 | Доступно Заказать | ||||||||||
---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
|
1980, Вып.1: Прогнозирование технического состояния изделий электронной...
Всего : 1 , доступно: 1 | Доступно Заказать | ||||||||||
---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
|
1980, Вып.2: Механизм деградации и отказов микроэлементов и интегральных...
Всего : 1 , доступно: 1 | Доступно Заказать | ||||||||||
---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
|
1980, Вып.3: Обеспечение стойкости микроэлементов и интегральных микросхем...
Всего : 1 , доступно: 1 | Доступно Заказать | ||||||||||
---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
|
1981, Вып.1: Некоторые модели в управлении качеством... / Кайдаулов П. М.
Всего : 1 , доступно: 1 | Доступно Заказать | ||||||||||
---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
|
1982, Вып.1: Физико-химические методы анализа в производстве интегральных...
Всего : 1 , доступно: 1 | Доступно Заказать | ||||||||||
---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
|