Ядерно-резонансные методы измерений тонких слоев и пленочных покрытий: (05.02.11): Автореф. дис. на соиск. учен. степени канд. техн. наук / АН СССР. Уральск. науч. центр. Ин-т физики металлов
Сохранено в:
| Вид документа: | |
|---|---|
| Автор: | Глазкова, Я. П. |
| Опубликовано: | Свердловск , 1974 |
| Физические характеристики: |
28 с. : граф.
|
| Язык: | Русский |
ОФХ отдела книгохранения
| Всего : 1 , доступно: 1 | Доступно Заказать | ||||||||||
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
|
|||||||||||