Ядерно-резонансные методы измерений тонких слоев и пленочных покрытий: (05.02.11): Автореф. дис. на соиск. учен. степени канд. техн. наук / АН СССР. Уральск. науч. центр. Ин-т физики металлов
Сохранено в:
Вид документа: | |
---|---|
Автор: | Глазкова, Я. П. |
Опубликовано: | Свердловск , 1974 |
Физические характеристики: |
28 с. : граф.
|
Язык: | Русский |
00000nam0a22000001ia4500 | |||
001 | BY-NLB-rr33436520000 | ||
005 | 20070720133640.0 | ||
021 | # | # | $a RU $b [74-8961а] |
100 | # | # | $a 20070720d1974 y0rusy50 ca |
101 | 0 | # | $a rus |
102 | # | # | $a RU |
200 | 1 | # | $a Ядерно-резонансные методы измерений тонких слоев и пленочных покрытий $e (05.02.11) $e Автореф. дис. на соиск. учен. степени канд. техн. наук $f АН СССР. Уральск. науч. центр. Ин-т физики металлов |
210 | # | # | $a Свердловск $d 1974 |
215 | # | # | $a 28 с. $c граф. |
300 | # | # | $a Список работ авт.: с. 27-28 (14 назв.) |
686 | # | # | $a 05.02.11 $2 oksvnk |
700 | # | 1 | $a Глазкова $b Я. П. $g Янина Павловна |
801 | # | 1 | $a BY $b BY-HM0000 $c 20070720 $g psbo |