Ядерно-резонансные методы измерений тонких слоев и пленочных покрытий: (05.02.11): Автореф. дис. на соиск. учен. степени канд. техн. наук / АН СССР. Уральск. науч. центр. Ин-т физики металлов

Сохранено в:
Шифр документа: АЯ232523,
Вид документа: Авторефераты диссертаций
Автор: Глазкова, Я. П.
Опубликовано: Свердловск , 1974
Физические характеристики: 28 с. : граф.
Язык: Русский
00000nam0a22000001ia4500
001 BY-NLB-rr33436520000
005 20070720133640.0
021 # # $a RU  $b [74-8961а] 
100 # # $a 20070720d1974 y0rusy50 ca 
101 0 # $a rus 
102 # # $a RU 
200 1 # $a Ядерно-резонансные методы измерений тонких слоев и пленочных покрытий  $e (05.02.11)  $e Автореф. дис. на соиск. учен. степени канд. техн. наук  $f АН СССР. Уральск. науч. центр. Ин-т физики металлов 
210 # # $a Свердловск  $d 1974 
215 # # $a 28 с.  $c граф. 
300 # # $a Список работ авт.: с. 27-28 (14 назв.) 
686 # # $a 05.02.11  $2 oksvnk 
700 # 1 $a Глазкова  $b Я. П.  $g Янина Павловна 
801 # 1 $a BY  $b BY-HM0000  $c 20070720  $g psbo