Применение теории подобия при анализе электронных процессов в полупроводниковых приборах: Автореф. дисс. на соискание учен. степени канд. физ.-мат. наук: (046) / Куйбышевский гос. пед. ин-т им. В. В. Куйбышева
Сохранено в:
| Вид документа: | |
|---|---|
| Автор: | Черепанов, В. С. |
| Опубликовано: | Куйбышев , 1969 |
| Физические характеристики: |
24 с.
|
| Язык: | Русский |
| 00000nam0a22000001ia4500 | |||
| 001 | BY-NLB-rr18341180000 | ||
| 005 | 20070503163023.0 | ||
| 100 | # | # | $a 20070503d1969 y0rusy50 ca |
| 101 | 0 | # | $a rus |
| 102 | # | # | $a RU |
| 200 | 1 | # | $a Применение теории подобия при анализе электронных процессов в полупроводниковых приборах $e Автореф. дисс. на соискание учен. степени канд. физ.-мат. наук $e (046) $f Куйбышевский гос. пед. ин-т им. В. В. Куйбышева |
| 210 | # | # | $a Куйбышев $d 1969 |
| 215 | # | # | $a 24 с. |
| 300 | # | # | $a Библиогр.: с. 21-23 (14 назв.) |
| 686 | # | # | $a 046 $2 oksvnk |
| 700 | # | 1 | $a Черепанов $b В. С. |
| 801 | # | 1 | $a BY $b BY-HM0000 $c 20070503 $g psbo |