Развитие метода, спектроскопии поверхностной фото-э.д.с. и его применение для исследования полупроводников A²B⁶ [[Микроформа]]: Дис. ... канд. физ.-мат. наук: Утв. 06.01.88: (01.04.07)
Сохранено в:
| Вид документа: | |
|---|---|
| Автор: | Давыдов, И. А. |
| Опубликовано: | Л. , 1986 |
| Физические характеристики: |
212 с. : ил.
|
| Язык: | Русский |
| 00000nbm0a22000001id4500 | |||
| 001 | BY-NLB-rr41181340000 | ||
| 005 | 20080219135215.0 | ||
| 100 | # | # | $a 20080219d1986 y0rusy50 ca |
| 101 | 0 | # | $a rus |
| 102 | # | # | $a RU |
| 200 | 1 | # | $a Развитие метода, спектроскопии поверхностной фото-э.д.с. и его применение для исследования полупроводников A²B⁶ $b [Микроформа] $e Дис. ... канд. физ.-мат. наук $e Утв. 06.01.88 $e (01.04.07) |
| 210 | # | # | $a Л. $d 1986 |
| 215 | # | # | $a 212 с. $c ил. |
| 300 | # | # | $a Библиогр.: с. 188-212 |
| 686 | # | # | $a 01.04.07 $2 oksvnk |
| 700 | # | 1 | $a Давыдов $b И. А. $g Игорь Александрович |
| 801 | # | 1 | $a BY $b BY-HM0000 $c 20080219 $g psbo |