
Расчет электронных энергий и комптоновских профилей кристаллов алмаза, кремния и бериллия методом матрицы плотности по рентгеновским дифракционным данным [[Микроформа]]: Дис. ... канд. физ.-мат. наук: Утв. 01.11.88: (01.04.07)
Guardado en:
Formato: | |
---|---|
Autor principal: | Александров, Ю. В. |
Publicado: | М. , 1987 |
Descripción Física: |
126 с. : ил.
|
Lenguaje: | Русский |
ОФХ отдела книгохранения
Всего : 1 , доступно: 1 | Disponible Hacer reserva | ||||||||||
---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
|