Расчет электронных энергий и комптоновских профилей кристаллов алмаза, кремния и бериллия методом матрицы плотности по рентгеновским дифракционным данным [[Микроформа]]: Дис. ... канд. физ.-мат. наук: Утв. 01.11.88: (01.04.07)

Guardado en:
Шифр документа: 04880011094,
Formato: Диссертации
Autor principal: Александров, Ю. В.
Publicado: М. , 1987
Descripción Física: 126 с. : ил.
Lenguaje: Русский

ОФХ отдела книгохранения

Всего : 1 , доступно: 1 Disponible  Hacer reserva

Информация об экземплярах

Шифр Фонд Место нахождения Статус экземпляра Читальный зал
04880011094 ОФХ отдела книгохранения (039) 11:4:6:202 СВОБОДЕН Рекомендованный ЧитЗал