Расчет электронных энергий и комптоновских профилей кристаллов алмаза, кремния и бериллия методом матрицы плотности по рентгеновским дифракционным данным [[Микроформа]]: Дис. ... канд. физ.-мат. наук: Утв. 01.11.88: (01.04.07)
Захавана ў:
| Тып дакумента: | |
|---|---|
| Аўтар: | Александров, Ю. В. |
| Апублікавана: | М. , 1987 |
| Фізіч. характарыстыкі: |
126 с. : ил.
|
| Мова: | Руская |
ОФХ отдела книгохранения
| Усяго : 1 , даступна: 1 | Даступна Замовіць | ||||||||||
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
|
|||||||||||