Электронная микроскопия тонких кристаллов: Пер. с англ. / Под ред. [и с предисл.] Л. М. Утевского

Сохранено в:
Шифр документа: АН601378, АР314425, АУ344542,
Вид документа: Книги
Опубликовано: М. : Мир , 1968
Физические характеристики: 574 с. : илл. ; 27 см
Язык: Русский
Предмет:
00000nam0a22000001ib4500
001 BY-NLB-rr40808160000
005 20080117124149.0
010 # # $b В пер.  $d 3 р. 44 к. 
021 # # $a RU  $b [68-111423] 
100 # # $a 20080117d1968 y0rusy50 ca 
101 0 # $a rus 
102 # # $a RU 
200 1 # $a Электронная микроскопия тонких кристаллов  $e Пер. с англ.  $f Под ред. [и с предисл.] Л. М. Утевского 
210 # # $a М.  $c Мир  $d 1968 
215 # # $a 574 с.  $c илл.  $d 27 см 
300 # # $a Библиогр. в конце глав. Предм. указатель: с. 562-568. Перед загл. авт.: П. Хирш, А. Хови, Р. Николсон и др. Доп. тит. л.: Electron microscopy of thin crystals. By P. B. Hirsch, A. Howie, R. B. Nicholson a. o. 
610 0 # $a Кристаллы - Электронная микроскопия 
675 # # $a 537.533.35 
701 # 1 $a Хирш  $b П. 
801 # 1 $a BY  $b BY-HM0000  $c 20080117  $g psbo