III конференция "Полевая ионная микроскопия и ее применение в промышленности": Тез. докл., 23-25 февр.
Zapisane w:
| Format: | |
|---|---|
| 1. autor: | "Полевая ионная микроскопия и ее применение в промышленности", конф., 3-я. Свердловск 1982 |
| Wydane: | Свердловск , 1982 |
| Opis fizyczny: |
38 с.
|
| Język: | Русский |
ОФХ отдела книгохранения
| Всего : 1 , доступно: 1 | Dostępne Zamów | ||||||||||
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
|
|||||||||||