Акустоэлектронные методы исследования поверхности полупроводников / В. А. Вьюн, А. В. Ржанов, И. Б. Яковкин

Сохранено в:
Шифр документа: 217086,
Вид документа: Книги
Автор: Вьюн, В. А.
Опубликовано: Новосибирск : ИФП , 1987
Физические характеристики: 126 с. : ил. ; 20 см
Язык: Русский
Предмет:
00000cam0a22000001ib4500
001 BY-NLB-rr39145630000
005 20180521141105.0
010 # # $d 60 к. 
021 # # $a RU  $b [87-85272] 
100 # # $a 20071023d1987 y0rusy50 ||||ca 
101 0 # $a rus 
102 # # $a RU 
200 1 # $a Акустоэлектронные методы исследования поверхности полупроводников  $f В. А. Вьюн, А. В. Ржанов, И. Б. Яковкин  $g АН СССР, Сиб. отд-ние, Ин-т физики полупроводников  $g Под ред. С. В. Богданова 
210 # # $a Новосибирск  $c ИФП  $d 1987 
215 # # $a 126 с.  $c ил.  $d 20 см 
300 # # $a Библиогр.: с. 103-124 (229 назв.) 
345 # # $9 299 экз. 
610 0 # $a Акустоэлектрический эффект в полупроводниках - Исследование 
675 # # $a 537.311.322:539.211.082.4 
700 # 1 $a Вьюн  $b В. А.  $g Владимир Алексеевич 
701 # 1 $a Ржанов  $b А. В.  $g Анатолий Васильевич 
701 # 1 $a Яковкин  $b И. Б.  $g Игорь Борисович 
801 # 1 $a BY  $b BY-HM0000  $c 20071023  $g psbo