Исследование классических размерных эффектов в тонких полупроводниковых пленках: (01.049): Автореф. дисс. на соискание учен. степени канд. физ.-мат. наук / Ереванский гос. ун-т
Сохранено в:
| Вид документа: | |
|---|---|
| Автор: | Вильмс, П. П. |
| Опубликовано: | Ереван , 1969 |
| Физические характеристики: |
12 с.
|
| Язык: | Русский |
| 00000nam0a22000001ia4500 | |||
| 001 | BY-NLB-rr38708130000 | ||
| 005 | 20071022190132.0 | ||
| 021 | # | # | $a RU $b [70-7562а] |
| 100 | # | # | $a 20071022d1969 y0rusy50 ca |
| 101 | 0 | # | $a rus |
| 102 | # | # | $a AM |
| 200 | 1 | # | $a Исследование классических размерных эффектов в тонких полупроводниковых пленках $e (01.049) $e Автореф. дисс. на соискание учен. степени канд. физ.-мат. наук $f Ереванский гос. ун-т |
| 210 | # | # | $a Ереван $d 1969 |
| 215 | # | # | $a 12 с. |
| 686 | # | # | $a 01.049 $2 oksvnk |
| 700 | # | 1 | $a Вильмс $b П. П. |
| 801 | # | 1 | $a BY $b BY-HM0000 $c 20071022 $g psbo |