Исследование электрических свойств и структуры тонких пленок алюминия, никеля, серебра, меди, МЛТ-14, МЛТ-3 и Cr-SiO₂-Al₂O₃: (01.04.07): Автореф. дис. на соиск. учен. степ. канд. техн. наук

Сохранено в:
Шифр документа: АЯ398201,
Вид документа: Авторефераты диссертаций
Автор: Белявский, Н. М.
Опубликовано: Воронеж , 1981
Физические характеристики: 19 с.
Язык: Русский
00000nam0a22000001ia4500
001 BY-NLB-rr37240370000
005 20070830144329.0
021 # # $a RU  $b [81-10898а] 
100 # # $a 20070830d1981 y0rusy50 ca 
101 0 # $a rus 
102 # # $a RU 
200 1 # $a Исследование электрических свойств и структуры тонких пленок алюминия, никеля, серебра, меди, МЛТ-14, МЛТ-3 и Cr-SiO₂-Al₂O₃  $e (01.04.07)  $e Автореф. дис. на соиск. учен. степ. канд. техн. наук 
210 # # $a Воронеж  $d 1981 
215 # # $a 19 с. 
300 # # $a В надзаг.: Воронеж. политехн. ин-т. Библиогр.: с. 18-19 (7 назв.) 
686 # # $a 01.04.07  $2 oksvnk 
700 # 1 $a Белявский  $b Н. М.  $g Николай Михайлович 
801 # 1 $a BY  $b BY-HM0000  $c 20070830  $g psbo