Измерение параметров полупроводниковых материалов и структур / В. В. Батавин, Ю. А. Концевой, Ю. В. Федорович

Сохранено в:
Шифр документа: 63452, 36024,
Вид документа: Книги
Автор: Батавин, В. В.
Опубликовано: М. : Радио и связь , 1985
Физические характеристики: 264 с. : ил. ; 20 см
Язык: Русский
Серия: Измерения в электрон.
Предмет:
00000cam0a22000001ib4500
001 BY-NLB-rr36965570000
005 20150428104606.0
010 # # $b В пер.  $d 1 р. 10 к. 
021 # # $a RU  $b [85-22120] 
100 # # $a 20070828d1985 y0rusy50 ||||ca 
101 0 # $a rus 
102 # # $a RU 
200 1 # $a Измерение параметров полупроводниковых материалов и структур  $f В. В. Батавин, Ю. А. Концевой, Ю. В. Федорович 
210 # # $a М.  $c Радио и связь  $d 1985 
215 # # $a 264 с.  $c ил.  $d 20 см 
225 2 # $a Измерения в электрон. 
300 # # $a Библиогр.: с. 251-262 (189 назв.) 
345 # # $9 5000 экз. 
610 0 # $a Полупроводниковые приборы - Параметры - Измерение 
675 # # $a 624.315.592:620.1+621.382.08 
700 # 1 $a Батавин  $b В. В.  $g Виталий Васильевич 
701 # 1 $a Концевой  $b Ю. А.  $g Юлий Абрамович 
701 # 1 $a Федорович  $b Ю. В.  $g Юрий Вячеславович 
801 # 1 $a BY  $b BY-HM0000  $c 20070828  $g psbo