Измерение параметров полупроводниковых приборов : Курс лекций / Моск. ин-т стали и сплавов. Кафедра полупроводниковой электроники и физики полупроводников. Ч. 4

Сохранено в:
Шифр документа: АН784578,
Вид документа: Книги
Физические характеристики: 134 с. : черт.
Язык: Русский
00000nam2a22000001ib4500
001 BY-NLB-rr36331390003
005 20070810175938.0
010 # # $d 22 к. 
021 # # $a RU  $b [73-4549] 
100 # # $a 20070810f y0rusy50 ca 
101 0 # $a rus 
200 0 # $a Ч. 4 
215 # # $a 134 с.  $c черт. 
345 # # $9 180 экз. 
461 # 0 $1 001BY-NLB-rr36331390000  $1 2000   $v Ч. 4 
801 # 1 $a BY  $b BY-HM0000  $c 20070810  $g psbo 
830 # # $a АН784578Ч.4;АН784579Ч.3;