Разработка и исследование методов прогнозирования отказов полупроводниковых диодов с использованием электрофизических параметров: (05.13.01): Автореф. дис. на соиск. учен. степени канд. техн. наук / Объедин. совет Отд-ния физ. и техн. наук АН ЛатвССР
Сохранено в:
| Вид документа: | |
|---|---|
| Автор: | Егоров, Л. П. |
| Опубликовано: | М. , 1975 |
| Физические характеристики: |
22 с.
|
| Язык: | Русский |
ОФХ отдела книгохранения
| Всего : 1 , доступно: 1 | Доступно Заказать | ||||||||||
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
|
|||||||||||