Разработка и исследование методов прогнозирования отказов полупроводниковых диодов с использованием электрофизических параметров: (05.13.01): Автореф. дис. на соиск. учен. степени канд. техн. наук / Объедин. совет Отд-ния физ. и техн. наук АН ЛатвССР
Сохранено в:
| Вид документа: | |
|---|---|
| Автор: | Егоров, Л. П. |
| Опубликовано: | М. , 1975 |
| Физические характеристики: |
22 с.
|
| Язык: | Русский |
| 00000nam0a22000001ia4500 | |||
| 001 | BY-NLB-rr35189440000 | ||
| 005 | 20070807142147.0 | ||
| 021 | # | # | $a RU $b [75-3690а] |
| 100 | # | # | $a 20070807d1975 y0rusy50 ca |
| 101 | 0 | # | $a rus |
| 102 | # | # | $a RU |
| 200 | 1 | # | $a Разработка и исследование методов прогнозирования отказов полупроводниковых диодов с использованием электрофизических параметров $e (05.13.01) $e Автореф. дис. на соиск. учен. степени канд. техн. наук $f Объедин. совет Отд-ния физ. и техн. наук АН ЛатвССР |
| 210 | # | # | $a М. $d 1975 |
| 215 | # | # | $a 22 с. |
| 300 | # | # | $a Список работ авт.: с. 20-22 (9 назв.) |
| 686 | # | # | $a 05.13.01 $2 oksvnk |
| 700 | # | 1 | $a Егоров $b Л. П. $g Леонид Петрович |
| 801 | # | 1 | $a BY $b BY-HM0000 $c 20070807 $g psbo |