Микроволновый метод исследования критических параметров и констант ВТСП / В. А. Евсеев, Р. Ф. Коноплева, В. С. Чащин

Сохранено в:
Шифр документа: 452293,
Вид документа: Книги
Автор: Евсеев, В. А.
Опубликовано: Л. : ЛИЯФ , 1991
Физические характеристики: 22, [1] с. : ил. ; 20 см
Язык: Русский
Серия: Препринт № 1705
Предмет:
00000cam0a22000001ib4500
001 BY-NLB-rr35153200000
005 20161124114752.0
010 # # $d Беспл. 
021 # # $a RU  $b [91-44662] 
100 # # $a 20070803d1991 y0rusy50 ||||ca 
101 0 # $a rus 
102 # # $a RU 
200 1 # $a Микроволновый метод исследования критических параметров и констант ВТСП  $f В. А. Евсеев, Р. Ф. Коноплева, В. С. Чащин 
210 # # $a Л.  $c ЛИЯФ  $d 1991 
215 # # $a 22, [1] с.  $c ил.  $d 20 см 
225 2 # $a Препринт  $f АН СССР, Ленингр. ин-т ядер. физики им. Б. П. Константинова  $v № 1705 
300 # # $a Библиогр. в конце кн. (11 назв.) 
345 # # $9 220 экз. 
610 0 # $a Сверхпроводники высокотемпературные - Критические параметры 
675 # # $a 538.945:536.45.08 
700 # 1 $a Евсеев  $b В. А.  $g Виктор Алексеевич 
701 # 1 $a Коноплева  $b Р. Ф.  $g Раиса Федоровна 
701 # 1 $a Чащин  $b В. С. 
801 # 1 $a BY  $b BY-HM0000  $c 20070803  $g psbo