Исследование короткоживущих дефектов в оксидах при импульсном электронном облучении: (01.04.07): Автореф. дис. на соиск. учен. степ. канд. физ.-мат. наук

Сохранено в:
Шифр документа: АЯ425557,
Вид документа: Авторефераты диссертаций
Автор: Гриценко, Б. П.
Опубликовано: Свердловск , 1982
Физические характеристики: 18 с. : граф.
Язык: Русский
00000cam0a22000001ia4500
001 BY-NLB-rr34032950000
005 20210505132933.0
021 # # $a RU  $b [82-14411а] 
100 # # $a 20070727d1982 y0rusy50 ||||ca 
101 0 # $a rus 
102 # # $a RU 
200 1 # $a Исследование короткоживущих дефектов в оксидах при импульсном электронном облучении  $e (01.04.07)  $e Автореф. дис. на соиск. учен. степ. канд. физ.-мат. наук 
210 # # $a Свердловск  $d 1982 
215 # # $a 18 с.  $c граф. 
300 # # $a В надзаг.: Урал. политехн. ин-т им. С. М. Кирова. Библиогр.: с. 17-18 (13 назв.) 
686 # # $a 01.04.07  $2 oksvnk 
700 # 1 $a Гриценко  $b Б. П.  $g Борис Петрович 
801 # 1 $a BY  $b BY-HM0000  $c 20070727  $g psbo