Измерение электрофизических параметров полупроводниковых материалов и структур зондовыми методами: Учеб. пособие / Удм. гос. ун-т им. 50-летия СССР

Сохранено в:
Шифр документа: 327547,
Вид документа: Книги
Автор: Голубев, В. И.
Опубликовано: Ижевск : УдГУ , 1989
Физические характеристики: 98, [1] с. : ил. ; 20 см
Язык: Русский
Предмет:
00000cam0a22000001ib4500
001 BY-NLB-rr33606130000
005 20210212134318.0
010 # # $d 35 к. 
021 # # $a RU  $b [89-58619] 
100 # # $a 20070720d1989 y0rusy50 ||||ca 
101 0 # $a rus 
102 # # $a RU 
200 1 # $a Измерение электрофизических параметров полупроводниковых материалов и структур зондовыми методами  $e Учеб. пособие  $f Удм. гос. ун-т им. 50-летия СССР 
210 # # $a Ижевск  $c УдГУ  $d 1989 
215 # # $a 98, [1] с.  $c ил.  $d 20 см 
300 # # $a Библиогр.: с. 98-99 (18 назв.) 
345 # # $9 500 экз. 
610 0 # $a Полупроводники - Электрофизические свойства - Определение 
675 # # $a 537.311.322.08(075.8) 
700 # 1 $a Голубев  $b В. И.  $g Виктор Иванович 
701 # 1 $a Усков  $b В. А.  $g Виктор Афанасьевич 
801 # 1 $a BY  $b BY-HM0000  $c 20070720  $g psbo