|
|
|
|
|
00000cam0a22000001ib4500 |
001 |
BY-NLB-rr33606130000 |
005 |
20210212134318.0 |
010 |
# |
# |
$d 35 к.
|
021 |
# |
# |
$a RU
$b [89-58619]
|
100 |
# |
# |
$a 20070720d1989 y0rusy50 ||||ca
|
101 |
0 |
# |
$a rus
|
102 |
# |
# |
$a RU
|
200 |
1 |
# |
$a Измерение электрофизических параметров полупроводниковых материалов и структур зондовыми методами
$e Учеб. пособие
$f Удм. гос. ун-т им. 50-летия СССР
|
210 |
# |
# |
$a Ижевск
$c УдГУ
$d 1989
|
215 |
# |
# |
$a 98, [1] с.
$c ил.
$d 20 см
|
300 |
# |
# |
$a Библиогр.: с. 98-99 (18 назв.)
|
345 |
# |
# |
$9 500 экз.
|
610 |
0 |
# |
$a Полупроводники - Электрофизические свойства - Определение
|
675 |
# |
# |
$a 537.311.322.08(075.8)
|
700 |
# |
1 |
$a Голубев
$b В. И.
$g Виктор Иванович
|
701 |
# |
1 |
$a Усков
$b В. А.
$g Виктор Афанасьевич
|
801 |
# |
1 |
$a BY
$b BY-HM0000
$c 20070720
$g psbo
|