Исследование возможностей метода дифракции быстрых электронов на отражение и его применение для кристаллографического изучения эпитаксиальных пленочных систем: (01.04.10): Автореф. дис. на соиск. учен. степени канд. физ.-мат. наук / АН УССР. Ин-т полупроводников

Сохранено в:
Шифр документа: АЯ252734,
Вид документа: Авторефераты диссертаций
Автор: Торчун, Н. М.
Опубликовано: Киев , 1974
Физические характеристики: 24 с.
Язык: Русский
00000nam0a22000001ia4500
001 BY-NLB-rr32265510000
005 20070709160701.0
021 # # $a RU  $b [74-24680а] 
100 # # $a 20070709d1974 y0rusy50 ca 
101 0 # $a rus 
102 # # $a UA 
200 1 # $a Исследование возможностей метода дифракции быстрых электронов на отражение и его применение для кристаллографического изучения эпитаксиальных пленочных систем  $e (01.04.10)  $e Автореф. дис. на соиск. учен. степени канд. физ.-мат. наук  $f АН УССР. Ин-т полупроводников 
210 # # $a Киев  $d 1974 
215 # # $a 24 с. 
300 # # $a Список лит.: с. 22-24 
686 # # $a 01.04.10  $2 oksvnk 
700 # 1 $a Торчун  $b Н. М.  $g Николай Михайлович 
801 # 1 $a BY  $b BY-HM0000  $c 20070709  $g psbo