Исследование поверхности вольфрама и тонких слоев серебра на вольфраме методом вторично-электронной спектроскопии: Автореф. дис. на соиск. учен. степ. канд. физ.-мат. наук: (01.04.07)
Сохранено в:
Вид документа: | |
---|---|
Автор: | Смирнов, О. М. |
Опубликовано: | Л. , 1982 |
Физические характеристики: |
16 с.
|
Язык: | Русский |
00000nam0a22000001ia4500 | |||
001 | BY-NLB-rr30943510000 | ||
005 | 20070619190155.0 | ||
100 | # | # | $a 20070619d1982 y0rusy50 ca |
101 | 0 | # | $a rus |
102 | # | # | $a RU |
200 | 1 | # | $a Исследование поверхности вольфрама и тонких слоев серебра на вольфраме методом вторично-электронной спектроскопии $e Автореф. дис. на соиск. учен. степ. канд. физ.-мат. наук $e (01.04.07) |
210 | # | # | $a Л. $d 1982 |
215 | # | # | $a 16 с. |
300 | # | # | $a В надзаг.: ЛГУ им. А. А. Жданова. Библиогр.: с. 14-116 (10 назв.) |
675 | # | # | $a 537.533.8 |
686 | # | # | $a 01.04.07 $2 oksvnk |
700 | # | 1 | $a Смирнов $b О. М. $g Олег Михайлович |
801 | # | 1 | $a BY $b BY-HM0000 $c 20070619 $g psbo |