Исследование поверхности вольфрама и тонких слоев серебра на вольфраме методом вторично-электронной спектроскопии: Автореф. дис. на соиск. учен. степ. канд. физ.-мат. наук: (01.04.07)

Сохранено в:
Шифр документа: АЯ444742,
Вид документа: Авторефераты диссертаций
Автор: Смирнов, О. М.
Опубликовано: Л. , 1982
Физические характеристики: 16 с.
Язык: Русский
00000nam0a22000001ia4500
001 BY-NLB-rr30943510000
005 20070619190155.0
100 # # $a 20070619d1982 y0rusy50 ca 
101 0 # $a rus 
102 # # $a RU 
200 1 # $a Исследование поверхности вольфрама и тонких слоев серебра на вольфраме методом вторично-электронной спектроскопии  $e Автореф. дис. на соиск. учен. степ. канд. физ.-мат. наук  $e (01.04.07) 
210 # # $a Л.  $d 1982 
215 # # $a 16 с. 
300 # # $a В надзаг.: ЛГУ им. А. А. Жданова. Библиогр.: с. 14-116 (10 назв.) 
675 # # $a 537.533.8 
686 # # $a 01.04.07  $2 oksvnk 
700 # 1 $a Смирнов  $b О. М.  $g Олег Михайлович 
801 # 1 $a BY  $b BY-HM0000  $c 20070619  $g psbo