Низкочастотные токовые шумы в диодных структурах ганна и их использование для оценки качества диодов: Автореф. дис. на соиск. учен. степ. канд. техн. наук: (05.27.01) / Моск. энерг. ин-т

Сохранено в:
Шифр документа: 57780/88СК,
Вид документа: Авторефераты диссертаций
Автор: Склизнев, С. М.
Опубликовано: М. , 1988
Физические характеристики: 20 с.
Язык: Русский
00000nam0a22000001ia4500
001 BY-NLB-rr30773400000
005 20070621142601.0
100 # # $a 20070621d1988 y0rusy50 ca 
101 0 # $a rus 
102 # # $a RU 
200 1 # $a Низкочастотные токовые шумы в диодных структурах ганна и их использование для оценки качества диодов  $e Автореф. дис. на соиск. учен. степ. канд. техн. наук  $e (05.27.01)  $f Моск. энерг. ин-т 
210 # # $a М.  $d 1988 
215 # # $a 20 с. 
300 # # $a Библиогр.: с. 19-20 (16 назв.). Для служеб. пользования 
686 # # $a 05.27.01  $2 oksvnk 
700 # 1 $a Склизнев  $b С. М.  $g Сергей Михайлович 
801 # 1 $a BY  $b BY-HM0000  $c 20070621  $g psbo