Методы и устройства контроля качественных характеристик полупроводниковых приборов: Автореф. дис. на соиск. учен. степ. канд. техн. наук: (05.11.13) / Винниц. политехн. ин-т
Сохранено в:
| Вид документа: | |
|---|---|
| Автор: | Семеренко, М. М. |
| Опубликовано: | Винница , 1988 |
| Физические характеристики: |
23 с.
|
| Язык: | Русский |
| 00000nam0a22000001ia4500 | |||
| 001 | BY-NLB-rr30447300000 | ||
| 005 | 20070615115235.0 | ||
| 100 | # | # | $a 20070615d1988 y0rusy50 ca |
| 101 | 0 | # | $a rus |
| 102 | # | # | $a UA |
| 200 | 1 | # | $a Методы и устройства контроля качественных характеристик полупроводниковых приборов $e Автореф. дис. на соиск. учен. степ. канд. техн. наук $e (05.11.13) $f Винниц. политехн. ин-т |
| 210 | # | # | $a Винница $d 1988 |
| 215 | # | # | $a 23 с. |
| 300 | # | # | $a Библиогр.: с. 20-23 (20 назв.). Для служеб. пользования |
| 686 | # | # | $a 05.11.13 $2 oksvnk |
| 700 | # | 1 | $a Семеренко $b М. М. $g Михаил Михайлович |
| 801 | # | 1 | $a BY $b BY-HM0000 $c 20070615 $g psbo |