Исследование дефектности диэлектрических слоев с помощью нематических жидких кристаллов на основе ориентационных эффектов: Автореф. дис. на соиск. учен. степ. канд. техн. наук: (01.04.10) / Новосиб. электротехн. ин-т

Захавана ў:
Шифр документа: 78581/89СК,
Тып дакумента: Аўтарэфераты дысертацый
Аўтар: Рубцов, А. Е.
Апублікавана: Новосибирск , 1989
Фізіч. характарыстыкі: 18 с.
Мова: Руская
00000nam0a22000001ia4500
001 BY-NLB-rr29686460000
005 20070608164729.0
100 # # $a 20070608d1989 y0rusy50 ca 
101 0 # $a rus 
102 # # $a RU 
200 1 # $a Исследование дефектности диэлектрических слоев с помощью нематических жидких кристаллов на основе ориентационных эффектов  $e Автореф. дис. на соиск. учен. степ. канд. техн. наук  $e (01.04.10)  $f Новосиб. электротехн. ин-т 
210 # # $a Новосибирск  $d 1989 
215 # # $a 18 с. 
300 # # $a Библиогр.: с. 17-18 (27 назв.). Для служеб. пользования 
686 # # $a 01.04.10  $2 oksvnk 
700 # 1 $a Рубцов  $b А. Е.  $g Александр Евгеньевич 
801 # 1 $a BY  $b BY-HM0000  $c 20070608  $g psbo