Исследование скоплений компенсирующих центров в полупроводниках и их взаимодействия с точечными собственными дефектами: (01.04.10): Автореф. дис. на соиск. учен. степ. канд. физ.-мат. наук
Сохранено в:
Вид документа: | |
---|---|
Автор: | Рахимов, О. |
Опубликовано: | Ташкент , 1985 |
Физические характеристики: |
14 с.
|
Язык: | Русский |
00000nam0a22000001ia4500 | |||
001 | BY-NLB-rr29278050000 | ||
005 | 20070605180312.0 | ||
021 | # | # | $a RU $b [85-19203а] |
100 | # | # | $a 20070605d1985 y0rusy50 ca |
101 | 0 | # | $a rus |
102 | # | # | $a UZ |
200 | 1 | # | $a Исследование скоплений компенсирующих центров в полупроводниках и их взаимодействия с точечными собственными дефектами $e (01.04.10) $e Автореф. дис. на соиск. учен. степ. канд. физ.-мат. наук |
210 | # | # | $a Ташкент $d 1985 |
215 | # | # | $a 14 с. |
300 | # | # | $a В надзаг.: АН УзССР, Физ.-техн. ин-т им. С. В. Стародубцева. Библиогр.: с. 14 (6 назв.) |
686 | # | # | $a 01.04.10 $2 oksvnk |
700 | # | 1 | $a Рахимов $b О. $g Одил |
801 | # | 1 | $a BY $b BY-HM0000 $c 20070605 $g psbo |