![](/themes/root/images/default-cover.png)
Методы измерения параметров полупроводников : Процессы, обусловленные равновесной концентрацией носителей заряда / Моск. ордена Трудового Красного Знамени ин-т стали и сплавов. Ч. 2 / Под ред. Горелика, С. С.
Сохранено в:
Вид документа: | |
---|---|
Опубликовано: | 1970 |
Физические характеристики: |
96 с.
|
Язык: | Русский |
ОФХ отдела книгохранения
Всего : 1 , доступно: 1 | Доступно Заказать | ||||||||||
---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
|