Методы измерения параметров полупроводников : Процессы, обусловленные равновесной концентрацией носителей заряда / Моск. ордена Трудового Красного Знамени ин-т стали и сплавов. Ч. 2 / Под ред. Горелика, С. С.
Сохранено в:
| Вид документа: | |
|---|---|
| Опубликовано: | 1970 |
| Физические характеристики: |
96 с.
|
| Язык: | Русский |
| 00000nam2a22000001ib4500 | |||
| 001 | BY-NLB-rr28792230002 | ||
| 005 | 20070529183647.0 | ||
| 010 | # | # | $d 14 к. |
| 021 | # | # | $a RU $b [70-83680] |
| 100 | # | # | $a 20070529d1970 y0rusy50 ca |
| 101 | 0 | # | $a rus |
| 200 | 0 | # | $a Ч. 2 $f Под ред. Горелика, С. С. |
| 210 | # | # | $d 1970 |
| 215 | # | # | $a 96 с. |
| 345 | # | # | $9 300 экз. |
| 461 | # | 0 | $1 001BY-NLB-rr28792230000 $1 2000 $v Ч. 2 |
| 675 | # | # | $a 621.315.592.08 |
| 801 | # | 1 | $a BY $b BY-HM0000 $c 20070529 $g psbo |
| 830 | # | # | $a АНД688515; |