
Вторично-ионный анализ материалов и структур электронной техники с управлением газовой средой в зоне анализа: Автореф. дис. на соиск. учен. степ. д-ра техн. наук: (05.27.02) / Ленингр. электротехн. ин-т им. В. И. Ульянова (Ленина)
Сохранено в:
Вид документа: | |
---|---|
Автор: | Попов, В. Ф. |
Опубликовано: | Л. , 1991 |
Физические характеристики: |
27 с.
|
Язык: | Русский |
00000nam0a22000001ia4500 | |||
001 | BY-NLB-rr28683320000 | ||
005 | 20070529182406.0 | ||
100 | # | # | $a 20070529d1991 y0rusy50 ca |
101 | 0 | # | $a rus |
102 | # | # | $a RU |
200 | 1 | # | $a Вторично-ионный анализ материалов и структур электронной техники с управлением газовой средой в зоне анализа $e Автореф. дис. на соиск. учен. степ. д-ра техн. наук $e (05.27.02) $f Ленингр. электротехн. ин-т им. В. И. Ульянова (Ленина) |
210 | # | # | $a Л. $d 1991 |
215 | # | # | $a 27 с. |
300 | # | # | $a Библиогр.: с. 24-27 (41 назв.). Для служеб. пользования |
686 | # | # | $a 05.27.02 $2 oksvnk |
700 | # | 1 | $a Попов $b В. Ф. $g Владимир Федорович |
801 | # | 1 | $a BY $b BY-HM0000 $c 20070529 $g psbo |