Неразрушающий метод контроля надежности полупроводниковых диодов: Специальность 298-полупроводниковые приборы и их технология. Автореферат дисс. на соискание учен. степени канд. техн. наук / Киевский политехн. ин-т им. 50-летия Великой Октябрьской соц. революции
Сохранено в:
| Вид документа: | |
|---|---|
| Автор: | Попеначенко, В. И. |
| Опубликовано: | Киев , 1967 |
| Физические характеристики: |
25 с.
|
| Язык: | Русский |
| 00000nam0a22000001ia4500 | |||
| 001 | BY-NLB-rr28649650000 | ||
| 005 | 20070529154002.0 | ||
| 021 | # | # | $a RU $b [68-3141] |
| 100 | # | # | $a 20070529d1967 y0rusy50 ca |
| 101 | 0 | # | $a rus |
| 102 | # | # | $a UA |
| 200 | 1 | # | $a Неразрушающий метод контроля надежности полупроводниковых диодов $e Специальность 298-полупроводниковые приборы и их технология. Автореферат дисс. на соискание учен. степени канд. техн. наук $f Киевский политехн. ин-т им. 50-летия Великой Октябрьской соц. революции |
| 210 | # | # | $a Киев $d 1967 |
| 215 | # | # | $a 25 с. |
| 700 | # | 1 | $a Попеначенко $b В. И. |
| 801 | # | 1 | $a BY $b BY-HM0000 $c 20070529 $g psbo |