![](/themes/root/images/default-cover.png)
Физические основы некоторых количественных методов просвечивающей электронной микроскопии: (046): Автореф. дисс. на соискание учен. степени д-ра физ.-мат. наук / АН УССР. Физ.-техн. ин-т низких температур
Сохранено в:
Вид документа: | |
---|---|
Автор: | Пилянкевич, А. Н. |
Опубликовано: | Харьков , 1971 |
Физические характеристики: |
35 с.
|
Язык: | Русский |
00000nam0a22000001ia4500 | |||
001 | BY-NLB-rr28262780000 | ||
005 | 20070525152809.0 | ||
021 | # | # | $a RU $b [71-7290а] |
100 | # | # | $a 20070525d1971 y0rusy50 ca |
101 | 0 | # | $a rus |
102 | # | # | $a UA |
200 | 1 | # | $a Физические основы некоторых количественных методов просвечивающей электронной микроскопии $e (046) $e Автореф. дисс. на соискание учен. степени д-ра физ.-мат. наук $f АН УССР. Физ.-техн. ин-т низких температур |
210 | # | # | $a Харьков $d 1971 |
215 | # | # | $a 35 с. |
300 | # | # | $a Список работ авт.: с. 31-35 (47 назв.) |
686 | # | # | $a 046 $2 oksvnk |
700 | # | 1 | $a Пилянкевич $b А. Н. |
801 | # | 1 | $a BY $b BY-HM0000 $c 20070525 $g psbo |