Токи, обусловленные дефектами, возникающими в слое объемного заряда светоизлучающей Р-П-структуры при деградации: (01.04.10): Автореф. дис. на соиск. учен. степ. канд. физ.-мат. наук

Сохранено в:
Шифр документа: АЯ424137,
Вид документа: Авторефераты диссертаций
Автор: Петрович, И. Л.
Опубликовано: Л. , 1981
Физические характеристики: 25 с.
Язык: Русский
00000nam0a22000001ia4500
001 BY-NLB-rr28171720000
005 20070525140905.0
021 # # $a RU  $b [82-977а] 
100 # # $a 20070525d1981 y0rusy50 ca 
101 0 # $a rus 
102 # # $a RU 
200 1 # $a Токи, обусловленные дефектами, возникающими в слое объемного заряда светоизлучающей Р-П-структуры при деградации  $e (01.04.10)  $e Автореф. дис. на соиск. учен. степ. канд. физ.-мат. наук 
210 # # $a Л.  $d 1981 
215 # # $a 25 с. 
300 # # $a В надзаг.: АН СССР, Физ.-техн. ин-т им. А. Ф. Иоффе. Библиогр.: с. 24-25 (19 назв.) 
686 # # $a 01.04.10  $2 oksvnk 
700 # 1 $a Петрович  $b И. Л.  $g Игорь Леонидович 
801 # 1 $a BY  $b BY-HM0000  $c 20070525  $g psbo