Устройства для измерения зависимости критического тока от внешнего магнитного поля коротких образцов сверхпроводника / В. А. Васильев, В. Я. Волков, Б. З. Житников [и др.]
Сохранено в:
| Вид документа: | |
|---|---|
| Опубликовано: | Дубна : ОИЯИ , 1977 |
| Физические характеристики: |
16 с. : ил. ; 21 см
|
| Язык: | Русский |
| Серия: |
Сообщ. Объедин. ин-та ядерных исследований
8-10323 |
| Предмет: |
ОФХ отдела книгохранения
| Всего : 1 , доступно: 1 | Доступно Заказать | ||||||||||
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
|
|||||||||||