Основы теории и общие методы патентной экспертизы: (Учеб.-метод. материалы по теме "Патентная экспертиза". Вып. 2) / Под общ. ред. В. Н. Бакастова

Сохранено в:
Шифр документа: АУД466938, АУД467176,
Вид документа: Книги
Опубликовано: М. : ЦНИИПИ , 1973
Физические характеристики: 40 с.
Язык: Русский
Серия: Инструктивно-метод. материалы. 1973
00000cam0a22000001ib4500
001 BY-NLB-rr24320540000
005 20100917141222.0
010 # # $d 13 к. 
021 # # $a RU  $b [73-63582] 
100 # # $a 20071115d1973 y0rusy50 ||||ca 
101 0 # $a rus 
102 # # $a RU 
200 1 # $a Основы теории и общие методы патентной экспертизы  $e (Учеб.-метод. материалы по теме "Патентная экспертиза". Вып. 2)  $f Под общ. ред. В. Н. Бакастова 
210 # # $a М.  $c ЦНИИПИ  $d 1973 
215 # # $a 40 с. 
225 2 # $a Инструктивно-метод. материалы. 1973  $f Ком. по делам изобретений и открытий при Совете Министров СССР. Центр. ин-т повышения квалификации руковод. работников и специалистов нар. хоз-ва в обл. патентной работы 
300 # # $a Перед загл. авт.: Г. Н. Анисов, И. И. Кичкин, Н. М. Мадатов, Э. П. Скорняков 
345 # # $9 12245 экз. 
675 # # $a 608.3 
801 # 1 $a BY  $b BY-HM0000  $c 20071115  $g psbo