|
|
|
|
|
00000cam0a22000001ib4500 |
001 |
BY-NLB-rr24320540000 |
005 |
20100917141222.0 |
010 |
# |
# |
$d 13 к.
|
021 |
# |
# |
$a RU
$b [73-63582]
|
100 |
# |
# |
$a 20071115d1973 y0rusy50 ||||ca
|
101 |
0 |
# |
$a rus
|
102 |
# |
# |
$a RU
|
200 |
1 |
# |
$a Основы теории и общие методы патентной экспертизы
$e (Учеб.-метод. материалы по теме "Патентная экспертиза". Вып. 2)
$f Под общ. ред. В. Н. Бакастова
|
210 |
# |
# |
$a М.
$c ЦНИИПИ
$d 1973
|
215 |
# |
# |
$a 40 с.
|
225 |
2 |
# |
$a Инструктивно-метод. материалы. 1973
$f Ком. по делам изобретений и открытий при Совете Министров СССР. Центр. ин-т повышения квалификации руковод. работников и специалистов нар. хоз-ва в обл. патентной работы
|
300 |
# |
# |
$a Перед загл. авт.: Г. Н. Анисов, И. И. Кичкин, Н. М. Мадатов, Э. П. Скорняков
|
345 |
# |
# |
$9 12245 экз.
|
675 |
# |
# |
$a 608.3
|
801 |
# |
1 |
$a BY
$b BY-HM0000
$c 20071115
$g psbo
|