|
|
|
|
|
00000nam0a22000001ib4500 |
| 001 |
BY-NLB-rr23882860000 |
| 005 |
20071115171258.0 |
| 010 |
# |
# |
$b В пер.
$d 1 р. 84 к.
|
| 021 |
# |
# |
$a RU
$b [65-840]
|
| 100 |
# |
# |
$a 20071115d1964 y0rusy50 ca
|
| 101 |
0 |
# |
$a rus
|
| 102 |
# |
# |
$a RU
|
| 200 |
1 |
# |
$a Обеспечение надежности полупроводниковых устройств
$e Пер. с англ.
$f Под общ. ред. А. С. Савиной
|
| 210 |
# |
# |
$a М.
$c Мир
$d 1964
|
| 215 |
# |
# |
$a 464 с.
$c илл.
$d 22 см
|
| 300 |
# |
# |
$a Авт. глав.: В. фон Алвен, Д. Пек, А. Прокассини и др. Доп. тит. л.: Semiconductor reliability. Библиогр. в конце глав
|
| 610 |
0 |
# |
$a Полупроводниковые приборы - Надежность - Сборники
|
| 675 |
# |
# |
$a 621.382
|
| 702 |
# |
1 |
$a Савина
$b А. С.
$4 340
|
| 801 |
# |
1 |
$a BY
$b BY-HM0000
$c 20071115
$g psbo
|
