Надежность полупроводниковых приборов : (Материалы лекций, прочит. в Политехн. музее на семинаре по надежности и прогрессивным методам контроля качества продукции) / Всесоюз. о-во «Знание». Политехн. музей. Гос. ком. стандартов Совета Министров СССР, Всесоюз. совет науч.-техн. о-в. Вып. 2 и 3

Сохранено в:
Шифр документа: АНД755885, АУД438430,
Вид документа: Книги
Опубликовано: 1972
Физические характеристики: 111 с. : черт.
Язык: Русский
00000nam2a22000001ib4500
001 BY-NLB-rr23426400003
005 20071112151114.0
010 # # $d 25 к. 
100 # # $a 20071112d1972 y0rusy50 ca 
101 0 # $a rus 
200 0 # $a Вып. 2 и 3 
210 # # $d 1972 
215 # # $a 111 с.  $c черт. 
300 # # $a Список лит.: с. 108-110 (26 назв.) 
461 # 0 $1 001BY-NLB-rr23426400000  $1 2000   $v Вып. 2 и 3 
801 # 1 $a BY  $b BY-HM0000  $c 20071112  $g psbo 
830 # # $a АНД725856;АНД755885В.2-3;АУД423071;АУД438430В.2-3;АНД725856В.1;АУД423071В.1;