![](/themes/root/images/default-cover.png)
Надежность полупроводниковых приборов : (Материалы лекций, прочит. в Политехн. музее на семинаре по надежности и прогрессивным методам контроля качества продукции) / Всесоюз. о-во «Знание». Политехн. музей. Гос. ком. стандартов Совета Министров СССР, Всесоюз. совет науч.-техн. о-в. Вып. 2 и 3
Сохранено в:
Вид документа: | |
---|---|
Опубликовано: | 1972 |
Физические характеристики: |
111 с. : черт.
|
Язык: | Русский |
00000nam2a22000001ib4500 | |||
001 | BY-NLB-rr23426400003 | ||
005 | 20071112151114.0 | ||
010 | # | # | $d 25 к. |
100 | # | # | $a 20071112d1972 y0rusy50 ca |
101 | 0 | # | $a rus |
200 | 0 | # | $a Вып. 2 и 3 |
210 | # | # | $d 1972 |
215 | # | # | $a 111 с. $c черт. |
300 | # | # | $a Список лит.: с. 108-110 (26 назв.) |
461 | # | 0 | $1 001BY-NLB-rr23426400000 $1 2000 $v Вып. 2 и 3 |
801 | # | 1 | $a BY $b BY-HM0000 $c 20071112 $g psbo |
830 | # | # | $a АНД725856;АНД755885В.2-3;АУД423071;АУД438430В.2-3;АНД725856В.1;АУД423071В.1; |