Микрохимический анализ тонких пленок методом упругого рассеяния ³He
Сохранено в:
| Вид документа: | |
|---|---|
| Опубликовано: | Дубна , 1976 |
| Физические характеристики: |
17 с.
|
| Язык: | Русский |
| Серия: |
Объедин. ин-т ядерных исследований
Р14-10021 |
| 00000nam0a22000001ib4500 | |||
| 001 | BY-NLB-rr23272010000 | ||
| 005 | 20071112155305.0 | ||
| 010 | # | # | $d Б. ц. |
| 100 | # | # | $a 20071112d1976 y0rusy50 ca |
| 101 | 0 | # | $a rus |
| 102 | # | # | $a RU |
| 200 | 1 | # | $a Микрохимический анализ тонких пленок методом упругого рассеяния ³He |
| 210 | # | # | $a Дубна $d 1976 |
| 215 | # | # | $a 17 с. |
| 225 | 2 | # | $a Объедин. ин-т ядерных исследований $v Р14-10021 |
| 300 | # | # | $a Список лит.: с. 14-17 (42 назв.). Перед загл. авт.: Ю. Бух, Н. И. Балалыкин, Г. М. Осетинский, Ван Сын Чан |
| 345 | # | # | $9 430 экз. |
| 675 | # | # | $a 539.216.2 |
| 801 | # | 1 | $a BY $b BY-HM0000 $c 20071112 $g psbo |