Метод определения толщины "мертвого слоя" полупроводниковых детекторов / Ю. И. Усиков, В. В. Темный, И. В. Эстулин, В. И. Стрижак
Zapisane w:
| Format: | |
|---|---|
| Wydane: | М. , 1981 |
| Opis fizyczny: |
13 с. : черт.
|
| Język: | Русский |
| Seria: |
АН СССР. Ин-т косм. исслед.
Пр-666 |
| Hasła przedmiotowe: |
ОФХ отдела книгохранения
| Всего : 1 , доступно: 1 | Dostępne Zamów | ||||||||||
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
|
|||||||||||