Метод определения толщины "мертвого слоя" полупроводниковых детекторов / Ю. И. Усиков, В. В. Темный, И. В. Эстулин, В. И. Стрижак

Сохранено в:
Шифр документа: М171951К,
Вид документа: Книги
Опубликовано: М. , 1981
Физические характеристики: 13 с. : черт.
Язык: Русский
Серия: АН СССР. Ин-т косм. исслед. Пр-666
Предмет:
00000nam0a22000001ib4500
001 BY-NLB-rr22815330000
005 20071112153830.0
010 # # $d Б. ц. 
021 # # $a RU  $b [81-87291] 
100 # # $a 20071112d1981 y0rusy50 ca 
101 0 # $a rus 
102 # # $a RU 
200 1 # $a Метод определения толщины "мертвого слоя" полупроводниковых детекторов  $f Ю. И. Усиков, В. В. Темный, И. В. Эстулин, В. И. Стрижак 
210 # # $a М.  $d 1981 
215 # # $a 13 с.  $c черт. 
225 2 # $a АН СССР. Ин-т косм. исслед.  $v Пр-666 
300 # # $a Библиогр.: с. 12 (7 назв.) 
345 # # $9 80 экз. 
610 0 # $a Детекторы полупроводниковые 
675 # # $a 539.1.074.55 
801 # 1 $a BY  $b BY-HM0000  $c 20071112  $g psbo