Количественная обработка синхротронных топограмм с помощью ЭВМ / Э. С. Абовян, Г. С. Акопян, П. А. Безирганян и др.. 2 : Высокопрецизионное определение ориентации кристалла на синхротронном дифрактометре
Сохранено в:
Вид документа: | |
---|---|
Физические характеристики: |
18 с. : черт.
|
Язык: | Русский |
Предмет: |
00000cam2a22000001ib4500 | |||
001 | BY-NLB-rr22214200002 | ||
005 | 20150507153504.0 | ||
010 | # | # | $d 15 к. |
021 | # | # | $a RU $b [85-18872] |
100 | # | # | $a 20071015f19841984 y0rusy50 ||||ca |
101 | 0 | # | $a rus |
200 | 1 | # | $a Высокопрецизионное определение ориентации кристалла на синхротронном дифрактометре |
215 | # | # | $a 18 с. $c черт. |
300 | # | # | $a Библиогр.: с. 17 (6 назв.) |
345 | # | # | $9 259 экз. |
461 | # | 0 | $1 001BY-NLB-rr22214200000 $1 2001 $v 2 |
610 | 0 | # | $a Кристаллы |
610 | 0 | # | $a Синхротронное излучение |
675 | # | # | $a 548.0:537.531:535.3 |
801 | # | 1 | $a BY $b BY-HM0000 $c 20071015 $g psbo |
830 | # | # | $a 64404; |