|
|
|
|
|
00000cam2a22000001ib4500 |
| 001 |
BY-NLB-rr22128630002 |
| 005 |
20200414100657.0 |
| 010 |
# |
# |
$a 5-07-001401-3
$d 25 к.
|
| 021 |
# |
# |
$a RU
$b [90-56939]
|
| 100 |
# |
# |
$a 20071025d1990 y0rusy50 ||||ca
|
| 101 |
0 |
# |
$a rus
|
| 102 |
# |
# |
$a RU
|
| 200 |
1 |
# |
$a Ускоренные испытания элементов и систем
$f Г. Д. Карташов
$c Элементы физико-статистической теории надежности интегральных микросхем
$f И. Т. Алексанян
|
| 210 |
# |
# |
$d 1990
|
| 215 |
# |
# |
$a 91 с.
$c ил.
|
| 300 |
# |
# |
$a Библиогр.: с. 39-41 (18 назв.), 88-89 (16 назв.)
|
| 345 |
# |
# |
$9 1750 экз.
|
| 461 |
# |
0 |
$1 001BY-NLB-rr22128550000
$1 2001
$v № 6 (12)
|
| 610 |
0 |
# |
$a Микроэлектронные схемы интегральные - Надежность - Статистическая теория (сб. 6)
|
| 610 |
0 |
# |
$a Промышленная продукция - Надежность - Сборники
|
| 675 |
# |
# |
$a 658.62.018(082)
|
| 701 |
# |
1 |
$a Карташов
$b Г. Д.
$g Геннадий Дмитриевич
|
| 801 |
# |
1 |
$a BY
$b BY-HM0000
$c 20071025
$g psbo
|
