Измерение времени жизни неосновных носителей из анализа их рекомбинации в подложке МИД-структуры / Я. Л. Кац, Х. И. Кляус, И. И. Ли и др.

Сохранено в:
Шифр документа: ДХМ135879,
Вид документа: Книги
Опубликовано: Новосибирск , 1960
Физические характеристики: 12 с.
Язык: Русский
Серия: Препринт 41-79
Предмет:
00000cam0a22000001ib4500
001 BY-NLB-rr21625110000
005 20221214163318.0
010 # # $d Б. ц. 
021 # # $a RU  $b [81-6860] 
100 # # $a 20071010d1960 y0rusy50 ||||ca 
101 0 # $a rus 
102 # # $a RU 
200 1 # $a Измерение времени жизни неосновных носителей из анализа их рекомбинации в подложке МИД-структуры  $f Я. Л. Кац, Х. И. Кляус, И. И. Ли и др. 
210 # # $a Новосибирск  $d 1960 
215 # # $a 12 с. 
225 2 # $a Препринт  $f АН СССР. Сиб. отд-ние. Ин-т физики полупроводников  $v 41-79 
300 # # $a Библиогр.: с. 12 (8 назв.) 
345 # # $9 200 экз. 
606 0 # $3 BY-NLB-ar55300  $a МДП-СТРУКТУРЫ  $2 DVNLB 
606 0 # $3 BY-NLB-ar24113  $a ПОДЛОЖКИ (электроника)  $2 DVNLB 
675 # # $a 621.382.01 
801 # 1 $a BY  $b BY-HM0000  $c 20071010  $g psbo