|
|
|
|
|
00000cam0a22000001ib4500 |
001 |
BY-NLB-rr21625110000 |
005 |
20221214163318.0 |
010 |
# |
# |
$d Б. ц.
|
021 |
# |
# |
$a RU
$b [81-6860]
|
100 |
# |
# |
$a 20071010d1960 y0rusy50 ||||ca
|
101 |
0 |
# |
$a rus
|
102 |
# |
# |
$a RU
|
200 |
1 |
# |
$a Измерение времени жизни неосновных носителей из анализа их рекомбинации в подложке МИД-структуры
$f Я. Л. Кац, Х. И. Кляус, И. И. Ли и др.
|
210 |
# |
# |
$a Новосибирск
$d 1960
|
215 |
# |
# |
$a 12 с.
|
225 |
2 |
# |
$a Препринт
$f АН СССР. Сиб. отд-ние. Ин-т физики полупроводников
$v 41-79
|
300 |
# |
# |
$a Библиогр.: с. 12 (8 назв.)
|
345 |
# |
# |
$9 200 экз.
|
606 |
0 |
# |
$3 BY-NLB-ar55300
$a МДП-СТРУКТУРЫ
$2 DVNLB
|
606 |
0 |
# |
$3 BY-NLB-ar24113
$a ПОДЛОЖКИ (электроника)
$2 DVNLB
|
675 |
# |
# |
$a 621.382.01
|
801 |
# |
1 |
$a BY
$b BY-HM0000
$c 20071010
$g psbo
|