|
|
|
|
|
00000nam0a22000001ib4500 |
| 001 |
BY-NLB-rr21244860000 |
| 005 |
20071009111656.0 |
| 010 |
# |
# |
$d 36 к.
|
| 021 |
# |
# |
$a RU
$b [83-74510]
|
| 100 |
# |
# |
$a 20071009d1982 y0rusy50 ca
|
| 101 |
0 |
# |
$a rus
|
| 102 |
# |
# |
$a RU
|
| 200 |
1 |
# |
$a Дефекты структуры, методы их исследований и влияние на свойства кристаллов и пленок
$e Сб. науч. тр.
$f Моск. ин-т электрон. техники
$g [Редкол.: С. К. Максимов (гл. ред.) и др.]
|
| 210 |
# |
# |
$a М.
$c МИЭТ
$d 1982
|
| 215 |
# |
# |
$a 138 с.
$c ил.
$d 20 см
|
| 300 |
# |
# |
$a Библиогр. в конце ст.
|
| 345 |
# |
# |
$9 300 экз.
|
| 610 |
0 |
# |
$a Полупроводники - Дефекты - Сборники
|
| 675 |
# |
# |
$a 621.315.592:539.2
|
| 702 |
# |
1 |
$a Максимов
$b С. К.
$4 340
|
| 711 |
0 |
2 |
$a Московский ин-т электронной техники
|
| 801 |
# |
1 |
$a BY
$b BY-HM0000
$c 20071009
$g psbo
|
