Анализ поверхности методами оже- и рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии / [Сих М. П., Бриггс Д., Ривьер Дж. К. и др.]

Сохранено в:
Шифр документа: 167941,
Вид документа: Книги
Опубликовано: М. : Мир , 1987
Физические характеристики: 598 с. : ил. ; 22 см
Язык: Русский
Предмет:
00000cam0a22000001ib4500
001 BY-NLB-rr20146190000
005 20170614142856.0
010 # # $b В пер.  $d 6 р. 40 к. 
021 # # $a RU  $b [87-57393] 
100 # # $a 20070924d1987 y0rusy50 ||||ca 
101 0 # $a rus 
102 # # $a RU 
200 1 # $a Анализ поверхности методами оже- и рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии  $f [Сих М. П., Бриггс Д., Ривьер Дж. К. и др.]  $g Под ред. Д. Бриггса, М. П. Сиха; Пер. с англ. под ред. В. И. Раховского, И. С. Реза 
210 # # $a М.  $c Мир  $d 1987 
215 # # $a 598 с.  $c ил.  $d 22 см 
300 # # $a Авт. указаны на обороте тит. л. - Библиогр. в конце глав. - Указ. имен., хим. соединений, предм.: с. 581-592. - Перевод изд.: Practical sufrace analysis by. auger-and X-ray photoelectron spectroscopy (Chichester etc., 1983) 
345 # # $9 3800 экз. 
610 0 # $a Поверхностные явления - Спектроскопические исследования 
610 0 # $a Оже-спектроскопия 
610 0 # $a Спектроскопия рентгеноэлектронная 
675 # # $a 539.26 
701 # 1 $a Сих  $b М. П. 
702 # 1 $a Бриггс  $b Д.  $4 340 
702 # 1 $a Раховский  $b В. И.  $g Вадим Израилевич  $4 340 
801 # 1 $a BY  $b BY-HM0000  $c 20070924  $g psbo