Развитие эллипсометрии кристаллов и ее применение к исследованию поверхностного плавления: (01.04.18): Автореф дис. на соиск. учен. степ. канд. физ.-мат. наук / АН СССР, Ин-т кристаллографии им. А. В. Шубникова
Сохранено в:
Вид документа: | |
---|---|
Автор: | Яковлев, В. А. |
Опубликовано: | М. , 1986 |
Физические характеристики: |
20 с. : граф.
|
Язык: | Русский |
00000nam0a22000001ia4500 | |||
001 | BY-NLB-rr19757410000 | ||
005 | 20070518192445.0 | ||
021 | # | # | $a RU $b [86-9430а] |
100 | # | # | $a 20070518d1986 y0rusy50 ca |
101 | 0 | # | $a rus |
102 | # | # | $a RU |
200 | 1 | # | $a Развитие эллипсометрии кристаллов и ее применение к исследованию поверхностного плавления $e (01.04.18) $e Автореф дис. на соиск. учен. степ. канд. физ.-мат. наук $f АН СССР, Ин-т кристаллографии им. А. В. Шубникова |
210 | # | # | $a М. $d 1986 |
215 | # | # | $a 20 с. $c граф. |
300 | # | # | $a Библиогр.: с. 19-20 (16 назв.) |
686 | # | # | $a 01.04.18 $2 oksvnk |
700 | # | 1 | $a Яковлев $b В. А. $g Виктор Алексеевич |
801 | # | 1 | $a BY $b BY-HM0000 $c 20070518 $g psbo |