|
|
|
|
|
00000cam0a22000001ib4500 |
001 |
BY-NLB-rr19367520000 |
005 |
20181011132731.0 |
010 |
# |
# |
$d 15 к.
|
021 |
# |
# |
$a RU
$b [88-26698]
|
100 |
# |
# |
$a 20070517d1988 y0rusy50 ||||ca
|
101 |
0 |
# |
$a rus
|
102 |
# |
# |
$a RU
|
200 |
1 |
# |
$a Параметрическая коррекция микроэлектронных устройств статистическими методами
|
210 |
# |
# |
$a Л.
$c ЛДНТП
$d 1988
|
215 |
# |
# |
$a 27, [1] с.
$c ил.
$d 21 см
|
225 |
2 |
# |
$a Сер. «Новое в конструировании и технологии пр-ва радиоэлектрон. аппаратуры»
$f Ленингр. Дом науч.-техн. пропаганды
|
300 |
# |
# |
$a Библиогр.: с. 27 (15 назв.)
|
345 |
# |
# |
$9 3500 экз.
|
610 |
0 |
# |
$a Микроэлектронные схемы - Надежность - Статистические методы изучения
|
675 |
# |
# |
$a 621.382.049.77.019.3:519.22
|
700 |
# |
1 |
$a Шульгин
$b Е. А.
$g Евгений Александрович
|
701 |
# |
1 |
$a Киличенков
$b Н. Ю.
$g Николай Юрьевич
|
801 |
# |
1 |
$a BY
$b BY-HM0000
$c 20070517
$g psbo
|