Исследование параметров локальных центров в полупроводниковых структурах методами растровой электронной микроскопии: (01.04.04): Автореф. дис. на соиск. учен. степ. канд. физ.-мат. наук

Сохранено в:
Шифр документа: АЯ510229,
Вид документа: Авторефераты диссертаций
Автор: Чубаренко, В. А.
Опубликовано: М. , 1985
Физические характеристики: 12 с.
Язык: Русский
00000nam0a22000001ia4500
001 BY-NLB-rr18575600000
005 20070507202252.0
021 # # $a RU  $b [85-9643а] 
100 # # $a 20070507d1985 y0rusy50 ca 
101 0 # $a rus 
102 # # $a RU 
200 1 # $a Исследование параметров локальных центров в полупроводниковых структурах методами растровой электронной микроскопии  $e (01.04.04)  $e Автореф. дис. на соиск. учен. степ. канд. физ.-мат. наук 
210 # # $a М.  $d 1985 
215 # # $a 12 с. 
300 # # $a В надзаг.: МГУ им. М. В. Ломоносова, Физ. фак. Библиогр.: с. 11-12 (7 назв.) 
686 # # $a 01.04.04  $2 oksvnk 
700 # 1 $a Чубаренко  $b В. А.  $g Владимир Алексеевич 
801 # 1 $a BY  $b BY-HM0000  $c 20070507  $g psbo